思博伦通信近日宣布，公司已与Signals Research Group（SRG）和ETS-Lindgren合作，针对商用LTE智能电话的性能，进行第一次独立的空口（OTA）基准测试和研究。SRG的研究结果展示了OTA测试方法学的特有能力，可显示出不同商用LTE设备之间明确的数据性能差异，并同时确认，性能不佳的智能电话只能以效率低下的方式使用网络资源，而且会使移动用户的体验严重恶化。
Signals Research Group首席执行官Michael Thelander评论道：“即使移动设备采用的是性能极好的芯片组，也会有无数个因素可能导致智能电话在蜂窝连接性方面性能低下，其中就包括MIMO天线的实施方式等因素。因此我们决定进行此次最新的空口基准测试，因为这可能才是目前全面确定设备性能的最佳方法。”
本研究的关键结论如下：
性能不佳的智能电话会使用户体验严重恶化，不仅无法高效使用宝贵的网络资源，还会增加用户的抱怨。
在使用MIMO的情况下，数据吞吐量通常要比不使用时高得多，但如果网络条件不够理想，该技术所带来的优势也将大打折扣。
尽管尚不足以得出结论，但这项研究发现，保护盖会对智能电话的性能产生一定程度的影响，尤其是在使用MIMO时。
Thelander 还指出：“我们的研究发现，在被测智能电话中存在巨大的OTA蜂窝性能差异。”
这项研究中包含了MIMO条件下LTE数据吞吐性能的OTA测试，涵盖了业界中一些最常见的移动设备，而且所有这些设备均使用某一制造商的芯片组。过去的SRG研究在测试中使用的是基于实验室的传统方法，提供了关于设备和芯片组性能的宝贵信息，但这类方法并不能提供完整的蜂窝性能全局，而OTA测试则可以做到面面俱到。OTA测试在受控的辐射环境中执行，而在本测试例中使用的是无反射微波暗室。被测设备被置于暗室中的辐射信号中，并且暗室内设置多个探测器，而可能影响蜂窝性能结果的外部因素则被完全隔绝在外面。
ETS Lindgren公司高级副总裁Bryan Sayler指出：“OTA测试方法是全面评估LTE设备真实数据性能的惟一手段。性能在很大程度上取决于设备的设计，尤其是MIMO等复杂的天线方案。随着LTE部署继续铺开，我们相信业界将更加倚重以空口方式测试设备的性能，而使用的正是类似于此次SRG所用的方法。”
思博伦通信副总裁Nigel Wright表示：“我们非常高兴与SRG和ETS合作，充分展示OTA测试方法所实现的增值能力 ，而这一方法将对用户的总体体验做出精确的评价，并且最终实现更好的体验。在对使用同一厂商芯片组的商用设备进行基准测试的过程中，我们发现，使用性能最佳的芯片组并不能保证性能最佳的移动设备。在验证LTE设备性能的过程中，业界面临着巨大且复杂的挑战，只有解决了这一问题，才能确保成功的商用推广。”
这项研究使用了思博伦的CS8 LTE网络仿真器、VR5信道仿真器、Spirent DatumLab服务器，以及ETS Lindgren的全新AMS-8055 MIMO单集群环境模拟器，并由此形成了一个成本效益极高的OTA测试环境。所有参与评测的设备均为公开上市产品。本项研究中所涉及的手机制造商在事前均不知悉研究，并且在报告公布后才首次了解研究的结果。
